Semiconductor IC Testing Pogo Pin Tower
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
Semiconductor IC testing Pogo pin Tower se combina con Testing Pogo pin connector y pogo pins.
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
Totalmente compatible con las torres de sonda existentes: 360/900/1080/1320/1620/2070 pines. Un módulo de pines 18-con 90 pines de señal por módulo individual y un módulo de pines 10-con 45 pines de señal por módulo individual.
Espacio de aplicación: 224 centímetros cuadrados y 114 centímetros cuadrados
Prueba de circuitos integrados de semiconductores Pogo pin Tower: Amplíe el espacio de aplicación, diseño de módulo de pines, espacio configurable libremente, se pueden proporcionar varias soluciones de módulos de pines pogo de acuerdo con las necesidades del cliente, configurables de 800 a 4800 pines.
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
Certificación de medición de resistencia de contacto para garantizar un excelente rendimiento. Herramientas de depuración, herramienta de prueba de posición de torre de sonda, herramienta de verificación de ubicación de nodo.
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
La estructura modular hace que el pin pogo y el bloque de resorte sean fáciles de expandir y reemplazar, y fáciles de mantener. Compatible con todas las tarjetas PIB tradicionales y estaciones de sonda estándar. Soluciones de interfaz más económicas, avanzadas e innovadoras Con cubierta para una prueba de baja temperatura.
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
La sonda de prueba de precisión es una sonda de prueba, que es una parte indispensable del proceso de prueba eléctrica de precisión. En el proceso de I+D y producción de circuitos electrónicos, muchas veces es necesario probar y analizar la continuidad y calidad de la señal. En este momento, es necesario utilizar una sonda de prueba de precisión para sacar la señal sin pérdida y proporcionarla al ICT o sistema de prueba correspondiente para un análisis integrado.
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
De acuerdo con los campos de aplicación de las sondas de prueba, las sondas de prueba se dividen en sondas ICT convencionales, sondas de prueba de semiconductores, sondas de prueba de alta frecuencia RF, sondas de alta corriente y sondas de contacto de batería. También se puede dividir en pines pogo convencionales de un solo extremo, agujas de prueba BGA de doble extremo y agujas de doble extremo con adaptador de manguito de aguja.
Semiconductor IC prueba Pogo pin Tower
En la etapa inicial de la selección de la sonda, varios parámetros que deben tenerse en cuenta son la distancia de la sonda de prueba, la selección del tipo de cabezal apropiado del objeto a probar, la corriente transportada por la prueba, la carrera del movimiento de prueba , y la fuerza elástica que debe seleccionarse, etc.
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